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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 試驗(yàn)箱>冷熱沖擊試驗(yàn)箱 > TSD-150F-2P密封性能良好廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱
密封性能良好廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱
簡要描述:

密封性能良好廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱,具備電源過載保護(hù)、漏電保護(hù)、控制回路過載及短路保護(hù)、壓縮機(jī)保護(hù)等多種安全保護(hù)功能,設(shè)兩道密封裝置,能有效保證良好的密封性能,內(nèi)外門密封條多采用硅橡膠材料,安全無毒。

型號(hào):TSD-150F-2P

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更新時(shí)間:2024-09-12

價(jià)格:36470

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密封性能良好廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱
品牌廣皓天產(chǎn)地國產(chǎn)

密封性能良好廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱


技術(shù)參數(shù):


溫度范圍:


高溫區(qū):+60℃~200℃;


低溫區(qū):a/-10℃~-40℃,b/-10℃~-60℃,c/-10℃~-70℃;


工作室:a/0℃~-40℃,b/-10℃~-55℃,c/-10℃~-65℃。


溫度波動(dòng)度:±0.5℃。


溫度均勻度:±3℃。


溫度恢復(fù)時(shí)間:3~5 分鐘。


高溫槽升溫速度:平均約 5℃/min。


低溫槽降溫速度:平均約 1.5℃/min。


高低溫暴露時(shí)間:30 分鐘以上。


高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤15 秒。


密封性能良好廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱


密封性能良好廣皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱


箱體結(jié)構(gòu):


箱體外壁材料:1.2mm 拉絲不銹鋼板。


箱體內(nèi)壁材料:sus304#1.2mm 不銹鋼板。


觀察窗:高溫箱安裝矩形多層中空隔熱玻璃觀察窗一個(gè)(350x250mm),觀察窗上安裝照明燈,方便觀察箱內(nèi)試驗(yàn)情況。


保溫材料:采用聚氨脂泡沫塑料經(jīng)高溫高壓發(fā)泡,將外殼與低溫室連接成一個(gè)整體,確保良好的保溫效果。


樣品室移動(dòng)方式:樣品靜置。




產(chǎn)品用途:

此試驗(yàn)箱主要用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),以及國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)等領(lǐng)域。它可測試材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力,以及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害,用于確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn),也可同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測量。






性能特點(diǎn):


溫度控制范圍較寬,其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn) GB10592-89 技術(shù)條件,符合 GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn) A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn) B:高溫試驗(yàn)方法》、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL 等標(biāo)準(zhǔn)。


采用吊籃裝置,實(shí)現(xiàn)快速的高低溫轉(zhuǎn)換,轉(zhuǎn)換時(shí)間小于 15 秒,恢復(fù)時(shí)間短,操作簡便,且風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng)合理,能確保溫度分布均勻。


相較于三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱,該兩箱式結(jié)構(gòu)在滿足試驗(yàn)要求的前提下,配置相對(duì)較小,成本較低,故障率也相對(duì)偏低。


制冷系統(tǒng):

為保證試驗(yàn)箱降溫速率和低溫度的要求,本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。壓縮機(jī)可選用法國進(jìn)口全封閉式“泰康"牌壓縮機(jī)或德國進(jìn)口半封閉式“比澤爾"牌壓縮機(jī),具有性能穩(wěn)定、制冷效率高的特點(diǎn)。同時(shí),配備風(fēng)冷式或水冷式冷卻系統(tǒng)。


參照標(biāo)準(zhǔn):

本試驗(yàn)箱符合 GB/T2423.1 低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2 高溫試驗(yàn)方法、GJB150.5-86 溫度沖擊試驗(yàn)法、GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法等標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗(yàn)。






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